Design of testable logic circuits
Por: Bennets, R. G
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Editor: Reading, Massachussetts-US Addison-Wesley 1983Descripción: 164 p.Tema(s): CIRCUITO LOGICO | CIRCUITOS, SISTEMAS DEClasificación CDD: 621.3819535 BEN
| Tipo de ítem | Ubicación actual | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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LIBRO
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Campus | 621.3819535 BEN (Navegar estantería) | Disponible | 039104 |
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